专业销售 德国Innowep设备OPTOTOP 高精度3-D轮廓剖面计

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光学表面测量系统：用于在无接触方式下，测量表面轮廓，高复杂的纳米，微米及宏观的几何结构，应用于研究与开发，入库检验，质量管理及不合格分析。

优点：

※ 简单方便的操作

※ 快速的数据采集

※ 对各种样品，材料和涂装进行智能检测。

※ 线性轮廓的微粗糙度值

※ 粗糙度值测试(构造–纹理分析)

※ 实现以2-D线性剖面显示，3-D显示表面轮廓及高度剖面

技术参数：

※ 感应器：色光式共轭焦

※ 测量范围Z*：300μm 1mm 2mm

※ 解析度Z*：12nm 25nm 75nm

※ 侧向解析度：1.55μm　 2μm　　4μm

※ 测量感应距离：11mm　12.7mm　16.4mm

※ 测量频率：30Hz，100Hz，300Hz，1kHz

※ 标准XY轴试验范围：60x60mm

※ 移动速度：0.1 ~ 10mm/s

※ 标准样品台大小：165x165mm或定制品

应用范围：

※ 对于平坦表面、有结构表面及弯曲表面的粗糙度及结构分析。

※ 测量宏观和微观的几何结构，平面控制。

※ 表面控制，例如压花辊(选购配件：移动式装置)

Example：写字用纸

Example：结构性皮革(3-D轮廓)

Example：Freshel(佛氏聚光灯)镜片(3-D轮廓

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